IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2000 Montréal, Québec)
2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2000 Montréal, Québec), Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon · 2000
פרטי הספר
- שנה
- 2000
- שפה
- English
- הוצאה
- Institute of Electrical & Electronics Enginee
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 85
- ISBN
- 9780769506371
מקור הנתונים: Wikidata