Patrick Echlin

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy · 1986
פרטי הספר
- שנה
- 1986
- שפה
- German
- הוצאה
- Springer US
- מהדורות
- 1
- ISBN
- 9781475790276
מקור הנתונים: Wikidata

Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy · 1986
מקור הנתונים: Wikidata