booktheque

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Patrick Echlin, C. E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy · 1986

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
1986
שפה
German
הוצאה
Springer US
מהדורות
1
ISBN
9781475790276

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Patrick Echlin