Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics IILahsen Assoufid

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II

Lahsen Assoufid, Peter Takacs, Masaru Ohtsuka · 2007

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה: 2007
שפה: English
הוצאה: SPIE
מהדורות: 1
עמודים: 168
ISBN: 9780819468529

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Lahsen Assoufid

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VILahsen Assoufid

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VI

Lahsen Assoufid · 2017

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIILahsen Assoufid

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VII

Lahsen Assoufid · 2017

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VLahsen Assoufid

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V

Lahsen Assoufid · 2014

Advances in metrology for x-ray and EUV optics IIILahsen Assoufid

Advances in metrology for x-ray and EUV optics III

Lahsen Assoufid · 2010