Advances in scanning probe microscopyY. Watanabe
Advances in scanning probe microscopy
Y. Watanabe · 2000
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
על הספר
This book covers several of the most important topics of current interest in the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.
פרטי הספר
- שנה
- 2000
- שפה
- English
- הוצאה
- Springer
- מהדורות
- 5
- עמודים
- 341
- ISBN
- 9783540667186
מקור הנתונים: Wikidata
