booktheque

Advances in X-Ray Analysis Vol. 39

John V. Gilfrich, D. K. Bowen, Ting C. Huang, Ron Jenkins · 1998

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
1998
שפה
English
הוצאה
Springer
מהדורות
1
עמודים
926
ISBN
9780306458033

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של John V. Gilfrich