David H. Krinsley
Backscattered scanning electron microscopy and image analysis of sediments and sedimentary rocks
David H. Krinsley, Kenneth Pye, Boggs, Sam, Jr., N. Keith Tovey · 2005
פרטי הספר
- שנה
- 2005
- שפה
- English
- הוצאה
- Cambridge University Press
- מהדורות
- 4
- עמודים
- 203
- ISBN
- 9780521019743
מקור הנתונים: Wikidata