Martin Kittler
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors
Martin Kittler, Otwin Breitenstein, A. Endrös, Wolfgang Schröter · 1998
פרטי הספר
- שנה
- 1998
- שפה
- English
- הוצאה
- Trans Tech Publications, Limited
- מהדורות
- 1
- ISBN
- 9783035706826
מקור הנתונים: Wikidata