Elham Tabassi
Biometric Quality : the Last 1%
Elham Tabassi, Patrick Grother, U. S. Department of Commerce National Institute of Standards and Technology (NIST) · 2008
פרטי הספר
- שנה
- 2008
- שפה
- English
- הוצאה
- CreateSpace Independent Publishing Platform
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 68
- ISBN
- 9781495984501
מקור הנתונים: Wikidata