Characterization and metrology for ULSI technology, 2000David G. Seiler

Characterization and metrology for ULSI technology, 2000

David G. Seiler · 2001

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה: 2001
שפה: English
הוצאה: American Institute of Physics
מהדורות: 1
עמודים: 708
ISBN: 9781563969676

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של David G. Seiler

Life on HoldDavid G. Seiler

David G. Seiler · 2006

Semiconductors and semimetalsDavid G. Seiler

Semiconductors and semimetals

David G. Seiler · 1992

Characterization and metrology for ULSI technologyDavid G. Seiler

Characterization and metrology for ULSI technology

David G. Seiler · 1998