Characterization Methods of Submicron MOSFETsHisham Haddara
Characterization Methods of Submicron MOSFETs
Hisham Haddara · 1996
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 1996
- שפה
- English
- סדרה
- The International Series in Engineering and Computer Science
- הוצאה
- Springer
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 248
- ISBN
- 9780792396956
מקור הנתונים: Wikidata
