CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implicationsAlexander A. Demkov
CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications
Alexander A. Demkov · 2009
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2009
- שפה
- English
- סדרה
- MRS proceedings -- v. 1155
- הוצאה
- Materials Research Society
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 179
- ISBN
- 9781605111285
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Alexander A. Demkov
Integration of Functional Oxides with SemiconductorsAlexander A. Demkov
Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Alexander A. Demkov · 2014
Materials fundamentals of gate dielectricsAlexander A. Demkov
Materials fundamentals of gate dielectrics
Alexander A. Demkov · 2005
CMOS Gate-Stack Scaling Vol. 1155Alexander A. Demkov
CMOS Gate-Stack Scaling Vol. 1155
Alexander A. Demkov · 2014
Materials Fundamentals of Gate DielectricsAlexander A. Demkov
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
Alexander A. Demkov · 2010