Evan Russell
Data-driven methods for fault detection and diagnosis in chemical processes
Evan Russell, Evan L. Russell, Leo H. Chiang, Richard D. Braatz · 2000
פרטי הספר
- שנה
- 2000
- שפה
- English
- הוצאה
- Springer
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 192
- ISBN
- 9781852332587
מקור הנתונים: Wikidata