Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuitsManoj Sachdev

Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits

Name: Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits
ISBN: 9780387465463

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

פרטי הספר

מקור הנתונים: Wikidata