booktheque

Defects and Synchrotron X-Ray Topography in Silicone-Carbide Based Devices

Juraj Marek, Gregor Pobegen, Ulrike Grossner · 2023

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2023
שפה
English
הוצאה
Trans Tech Publications, Limited
מהדורות
2
ISBN
9783036403328

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Juraj Marek

Functional Materials and Materials Reliability
Juraj Marek · 2023
Manufacturing and Properties of Functional Materials
Juraj Marek · 2023
Optical, Electronic and Special Materials
Juraj Marek · 2023
Silicon Carbide MOSFETs and Special Materials
Juraj Marek · 2023
Semiconductor Wafer Fabrication, Coatings and Tribology
Juraj Marek · 2023
Technologies and Application of Engineering Materials
Juraj Marek · 2023
Functional and Eco-Friendly Materials
Juraj Marek · 2023
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials ICSCRM 2022
Juraj Marek · 2023
Silicon Carbide Wafer Manufacturing, Optoelectronic and Electronic Devices and Technologies
Juraj Marek · 2023
Silicon Carbide and Advanced Materials
Juraj Marek · 2023