Byung-Eun Park
Ferroelectric-Gate Field Effect Transistor Memories
Byung-Eun Park, Hiroshi Ishiwara, Masanori Okuyama, Shigeki Sakai · 2021
פרטי הספר
- שנה
- 2021
- שפה
- English
- הוצאה
- Springer Singapore Pte. Limited
- מהדורות
- 6
- ISBN
- 9789811512148
מקור הנתונים: Wikidata