Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VIICor Claeys
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII
Cor Claeys, Jan Vanhellemont, Hans Richter, Martin Kittler · 1997
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 1997
- שפה
- English
- הוצאה
- Trans Tech Publications, Limited
- מהדורות
- 1
- ISBN
- 9783035706710
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Cor Claeys
Cryopreservation and freeze-drying protocolsCor Claeys
Cryopreservation and freeze-drying protocols
Cor Claeys · 2010
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based TechnologiesCor Claeys
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Cor Claeys · 2018
Germanium-Based TechnologiesCor Claeys
Germanium-Based Technologies
Cor Claeys · 2011
Extended Defects in GermaniumCor Claeys
Extended Defects in Germanium
Cor Claeys · 2010