Ullrich Pietsch
High-resolution X-ray scattering from thin films and lateral nanostructures
Ullrich Pietsch, Ulrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach · 2004
פרטי הספר
- שנה
- 2004
- שפה
- English
- הוצאה
- Springer
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 408
- ISBN
- 9780387400921
מקור הנתונים: Wikidata
