Eiji Takeda
Hot-Carrier Effects in MOS Devices
Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada · 1995
פרטי הספר
- שנה
- 1995
- שפה
- English
- הוצאה
- Elsevier Science & Technology Books
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 312
- ISBN
- 9780080926223
מקור הנתונים: Wikidata
Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada · 1995
מקור הנתונים: Wikidata