Pradeep Lall
Influence of temperature on microelectronics and system reliability
Pradeep Lall · 1997
פרטי הספר
- שנה
- 1997
- שפה
- English
- הוצאה
- Taylor & Francis Group
- מהדורות
- 4
- עמודים
- 336
- ISBN
- 9780429611117
מקור הנתונים: Wikidata
Pradeep Lall · 1997
מקור הנתונים: Wikidata