booktheque

Integrated Circuit Metrology Inspection and Process Control Viii/V 2196

Mary Bennett · 1994

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
1994
שפה
English
סדרה
Proceedings / SPIE--the International Society for Optical Engineering -- v. 2196.
הוצאה
SPIE
מהדורות
2
עמודים
553
ISBN
9780819414915

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Mary Bennett