Materials Reliability Issues in MicroelectronicsJ. R. Llyod
Materials Reliability Issues in Microelectronics
J. R. Llyod, P. S. Ho, C. T. Fah, E. Yost · 1991
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 1991
- שפה
- English
- הוצאה
- Materials Research Society
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 354
- ISBN
- 9781558991194
מקור הנתונים: Wikidata