Materials Reliability Issues in MicroelectronicsJames R. Lloyd
Materials Reliability Issues in Microelectronics
James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho · 2014
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2014
- שפה
- English
- הוצאה
- University of Cambridge ESOL Examinations
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 388
- ISBN
- 9781107409873
מקור הנתונים: Wikidata