Enno Rey

Mehr IT-Sicherheit durch Pen-Tests
Enno Rey, Michael Thumann, Dominick Baier, Stephen Fedtke · 2012
פרטי הספר
- שנה
- 2012
- הוצאה
- Vieweg+Teubner Verlag
- מהדורות
- 3
- עמודים
- 218
- ISBN
- 9783322802583
מקור הנתונים: Wikidata

Enno Rey, Michael Thumann, Dominick Baier, Stephen Fedtke · 2012
מקור הנתונים: Wikidata