Heiko Beyer
Methoden zur rechnergestützten zeitbezogenen Analyse und Optimierung von Testabläufen beim Test integrierter Schaltungen
Heiko Beyer · 2004
פרטי הספר
- שנה
- 2004
- שפה
- German
- סדרה
- Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren -- Nr. 386
- הוצאה
- VDI-Verlag
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 194
- ISBN
- 9783183386208
מקור הנתונים: Wikidata
