Zhiyong Ma
Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Zhiyong Ma, David G. Seiler · 2017
פרטי הספר
- שנה
- 2017
- שפה
- English
- הוצאה
- Jenny Stanford Publishing
- מהדורות
- 5
- עמודים
- 1454
- ISBN
- 9781315185385
מקור הנתונים: Wikidata
Zhiyong Ma, David G. Seiler · 2017
מקור הנתונים: Wikidata