Noble M. Johnson
Microscopic identification of electronic defects in semiconductors
Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins · 1985
פרטי הספר
- שנה
- 1985
- שפה
- English
- הוצאה
- Materials Research Society
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 604
- ISBN
- 9780931837111
מקור הנתונים: Wikidata