Noncontact Atomic Force Microscopy
S. Morita · 2002
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
על הספר
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
פרטי הספר
- שנה
- 2002
- שפה
- English
- סדרה
- NanoScience and Technology, 1434-4904
- הוצאה
- Springer Berlin Heidelberg
- מהדורות
- 4
- עמודים
- 439
- ISBN
- 9783642560194
מקור הנתונים: Wikidata