Michael Mastro
Performance and Reliability of Semiconductor Devices
Michael Mastro, Jeffrey LaRoche, Fan Ren, Jen-Inn Chyi · 2014
פרטי הספר
- שנה
- 2014
- שפה
- English
- הוצאה
- University of Cambridge ESOL Examinations
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 278
- ISBN
- 9781107408494
מקור הנתונים: Wikidata