booktheque

Performance and Reliability of Semiconductor Devices

Michael Mastro, Jeffrey LaRoche, Fan Ren, Jen-Inn Chyi · 2014

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2014
שפה
English
הוצאה
University of Cambridge ESOL Examinations
מהדורות
1
עמודים
278
ISBN
9781107408494

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Michael Mastro