International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (7th 1999 Singapore)

Proceedings of the 1999 7th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits [IPFA '99
International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (7th 1999 Singapore), IEEE Electron Devices Society, IEEE Reliability Society, IEEE Components Packaging & Manufacturin · 1999
פרטי הספר
- שנה
- 1999
- שפה
- English
- הוצאה
- IEEE Standards Office
- מהדורות
- 2
- עמודים
- 209
- ISBN
- 9780780351882
מקור הנתונים: Wikidata