Process Control, Diagnostics, and Modeling in Semiconductor Manufacturing I (Proceedings)M. Meyyappan
Process Control, Diagnostics, and Modeling in Semiconductor Manufacturing I (Proceedings)
M. Meyyappan · 1995
איפה לקנות
המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.
לצפייה באמזוןזה קישור שותפים: כשקונים דרכו, האתר מקבל עמלה קטנה בלי תוספת במחיר עבורכם, וזה עוזר לנו להביא תוכן איכותי ולתחזק את האתר. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 1995
- שפה
- English
- הוצאה
- Electrochemical Society
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 629
- ISBN
- 9781566770965
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של M. Meyyappan
Inorganic nanowiresM. Meyyappan
Inorganic nanowires
M. Meyyappan · 2008
Carbon NanotubesM. Meyyappan
Carbon Nanotubes
M. Meyyappan · 2004
Inorganic nanowiresM. Meyyappan
Inorganic nanowires
M. Meyyappan · 2010
Introduction to Nanotechnology for Science and EngineersM. Meyyappan
Introduction to Nanotechnology for Science and Engineers
M. Meyyappan · 2009