booktheque

Quality aspects in spatial data mining

Alfred Stein, John Shi, Wietske Bijker · 2008

איפה לקנות

בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.

לצפייה באמזון

קישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.

פרטי הספר

שנה
2008
שפה
English
הוצאה
CRC
מהדורות
9
עמודים
374
ISBN
9781420069266

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Alfred Stein