Scanning electron microscopy and x-ray microanalysisGoldstein, Joseph
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Goldstein, Joseph, Dale E. Newbury, David joy, Patrick Echlin · 2003
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2003
- שפה
- English
- הוצאה
- Springer
- מהדורות
- 13
- עמודים
- 689
- ISBN
- 9780306472923
מקור הנתונים: Wikidata