booktheque

Terrestrial Neutron-Induced Soft Error in Advanced Memory Devices

Takashi Nakamura, Mamoru Baba, Eishi Ibe · 2008

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2008
שפה
English
הוצאה
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
מהדורות
1
ISBN
9781281930057

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Takashi Nakamura