booktheque

Testing For Smalldelay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits

Krishnendu Chakrabarty, Sandeep K. Goel · 2017

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2017
שפה
English
הוצאה
Taylor & Francis Group
מהדורות
8
עמודים
259
ISBN
9781315217819

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Krishnendu Chakrabarty