S. Vandendriessche
The Certification of a Reference Material for the Determination of Oxygen in Semiconductor Silicon by Infra-red Spectrometry
S. Vandendriessche · 1991
פרטי הספר
- שנה
- 1991
- הוצאה
- European Communities / Union (EUR-OP/OOPEC/OPOCE)
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 54
- ISBN
- 9789282625262
מקור הנתונים: Wikidata