booktheque

VLSI Design and Test

Singh Manoj Gaur, Mark Zwolinski, Vijay Laxmi · 2013

איפה לקנות

בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.

לצפייה באמזון

קישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.

על הספר

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

פרטי הספר

שנה
2013
שפה
English
הוצאה
Springer Berlin / Heidelberg
מהדורות
3
עמודים
388
ISBN
9783642420238

מקור הנתונים: Wikidata