booktheque

Wafer level reliability of advanced CMOS devices and processes

Yi Zhao · 2008

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2008
שפה
English
הוצאה
Nova Science Publishers
מהדורות
1
ISBN
9781604567137

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Yi Zhao