Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, OxfordMoore

Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford

Name: Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford
ISBN: 9780852743980

Moore · 1988

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

זה קישור שותפים: כשקונים דרכו, האתר מקבל עמלה קטנה בלי תוספת במחיר עבורכם, וזה עוזר לנו להביא תוכן איכותי ולתחזק את האתר. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.