Heiko Beyer
Methoden zur rechnergestützten zeitbezogenen Analyse und Optimierung von Testabläufen beim Test integrierter Schaltungen
Heiko Beyer · 2004
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- Year
- 2004
- Language
- German
- Series
- Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren -- Nr. 386
- Publisher
- VDI-Verlag
- Editions
- 1
- Pages
- 194
- ISBN
- 9783183386208
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