Electromigration in Ulsi InterconnectionsCher Ming Tan
Electromigration in Ulsi Interconnections
Cher Ming Tan · 2010
איפה לקנות
בדקו את המחיר העדכני באמזון. אנחנו לא מציגים מחירים כי הם משתנים מדי יום.
לצפייה באמזוןקישור שותפים. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2010
- שפה
- English
- הוצאה
- World Scientific Publishing Co Pte Ltd
- מהדורות
- 2
- ISBN
- 9781283143714
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Cher Ming Tan
Electromigration Modeling at Circuit Layout LevelCher Ming Tan
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Cher Ming Tan · 2013
Reliability and Failure Analysis of High Power LED PackagingCher Ming Tan
Reliability and Failure Analysis of High Power LED Packaging
Cher Ming Tan · 2022
Reliability Analysis of Electrotechnical DevicesCher Ming Tan
Reliability Analysis of Electrotechnical Devices
Cher Ming Tan · 2022
Graphene and VLSI InterconnectsCher Ming Tan
Graphene and VLSI Interconnects
Cher Ming Tan · 2021
Graphene and Ulsi InterconnectsCher Ming Tan
Graphene and Ulsi Interconnects
Cher Ming Tan · 2021
Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia IndustryCher Ming Tan
Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
Cher Ming Tan · 2017
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI InterconnectionsCher Ming Tan
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Cher Ming Tan · 2013