Michael Postek
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VIII
Michael Postek · 2014
פרטי הספר
- שנה
- 2014
- שפה
- English
- הוצאה
- SPIE
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 98
- ISBN
- 9781628412000
מקור הנתונים: Wikidata
Michael Postek · 2014
מקור הנתונים: Wikidata