Scanning Microscopies 2014Michael Postek
Scanning Microscopies 2014
Michael Postek, Dale Newbury, S. Frank Platek, Tim Maugel · 2014
איפה לקנות
המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.
לצפייה באמזוןזה קישור שותפים: כשקונים דרכו, האתר מקבל עמלה קטנה בלי תוספת במחיר עבורכם, וזה עוזר לנו להביא תוכן איכותי ולתחזק את האתר. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2014
- שפה
- English
- הוצאה
- SPIE
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 260
- ISBN
- 9781628412994
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Michael Postek
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VIIIMichael Postek
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VIII
Michael Postek · 2014
Scanning Microscopies 2013Michael Postek
Scanning Microscopies 2013
Michael Postek · 2013