Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized LightPierre-Richard Dahoo
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami · 2016
איפה לקנות
המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.
לצפייה באמזוןזה קישור שותפים: כשקונים דרכו, האתר מקבל עמלה קטנה בלי תוספת במחיר עבורכם, וזה עוזר לנו להביא תוכן איכותי ולתחזק את האתר. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2016
- שפה
- English
- הוצאה
- Wiley & Sons, Incorporated, John
- מהדורות
- 4
- עמודים
- 316
- ISBN
- 9781848219366
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Pierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical Spindles for Space Observation 1Pierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical Spindles for Space Observation 1
Pierre-Richard Dahoo · 2021
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical Spindles for Space Observation, Volume 2Pierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Symmetric and Spherical Spindles for Space Observation, Volume 2
Pierre-Richard Dahoo · 2021
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Pierre-Richard Dahoo · 2021
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
Pierre-Richard Dahoo · 2021
Infrared Spectroscopy of Triatomics for Space ObservationPierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Triatomics for Space Observation
Pierre-Richard Dahoo · 2018
Infrared Spectroscopy of Diatomic for Space ObservationPierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Diatomic for Space Observation
Pierre-Richard Dahoo · 2017
Infrared Spectroscopy of Diatomics for Space ObservationPierre-Richard Dahoo
Infrared Spectroscopy of Diatomics for Space Observation
Pierre-Richard Dahoo · 2017