System-on-chip test architecturesLaung-Terng Wang

System-on-chip test architectures

Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba · 2007

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה: 2007
שפה: English
הוצאה: Morgan Kaufmann
מהדורות: 3
עמודים: 896
ISBN: 9780123739735

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Laung-Terng Wang

Electronic design automationLaung-Terng Wang

Electronic design automation

Laung-Terng Wang · 2008

VLSI test principles and architecturesLaung-Terng Wang

VLSI test principles and architectures

Laung-Terng Wang · 2006