VLSI test principles and architecturesLaung-Terng Wang

VLSI test principles and architectures

Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen, Cheng-Wen Wu · 2006

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה: 2006
שפה: English
הוצאה: Morgan Kaufmann
מהדורות: 2
עמודים: 808
ISBN: 9780123705976

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Laung-Terng Wang

Electronic design automationLaung-Terng Wang

Electronic design automation

Laung-Terng Wang · 2008

System-on-chip test architecturesLaung-Terng Wang

System-on-chip test architectures

Laung-Terng Wang · 2007