booktheque

Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IV

Michael T. Postek · 2010

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
2010
שפה
English
סדרה
Proceedings of SPIE -- v. 7767
הוצאה
SPIE
מהדורות
1
ISBN
9780819482631

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Michael T. Postek

Critical Issues in Scanning Electron Microscope Metrology
Michael T. Postek · 1994
Integrated Circuit Metrology, Inspection, And Process Control VII
Michael T. Postek · 1993
Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI
Michael T. Postek · 1992
Scanning Microscopies 2015
Michael T. Postek · 2015
Scanning Microscopies 2012
Michael T. Postek · 2012
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V
Michael T. Postek · 2011
New research in nanotechnology
Michael T. Postek · 2011
Scanning microscopies 2011
Michael T. Postek · 2011
Scanning microscopy 2010
Michael T. Postek · 2010
Scanning microscopy 2009
Michael T. Postek · 2009