Scanning Microscopies 2015Michael T. Postek
Scanning Microscopies 2015
Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, Tim Maugel · 2015
איפה לקנות
המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.
לצפייה באמזוןזה קישור שותפים: כשקונים דרכו, האתר מקבל עמלה קטנה בלי תוספת במחיר עבורכם, וזה עוזר לנו להביא תוכן איכותי ולתחזק את האתר. בתור שותפים של Amazon אנחנו מרוויחים מרכישות מתאימות.
פרטי הספר
- שנה
- 2015
- שפה
- English
- הוצאה
- SPIE
- מהדורות
- 1
- עמודים
- 152
- ISBN
- 9781628418460
מקור הנתונים: Wikidata
עוד של Michael T. Postek
Critical Issues in Scanning Electron Microscope MetrologyMichael T. Postek
Critical Issues in Scanning Electron Microscope Metrology
Michael T. Postek · 1994
Integrated Circuit Metrology, Inspection, And Process Control VIIMichael T. Postek
Integrated Circuit Metrology, Inspection, And Process Control VII
Michael T. Postek · 1993
Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIMichael T. Postek
Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI
Michael T. Postek · 1992
Scanning Microscopies 2012Michael T. Postek
Scanning Microscopies 2012
Michael T. Postek · 2012
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VMichael T. Postek
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V
Michael T. Postek · 2011
New research in nanotechnologyMichael T. Postek
New research in nanotechnology
Michael T. Postek · 2011
Scanning microscopies 2011Michael T. Postek
Scanning microscopies 2011
Michael T. Postek · 2011
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IVMichael T. Postek
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IV
Michael T. Postek · 2010
Scanning microscopy 2010Michael T. Postek
Scanning microscopy 2010
Michael T. Postek · 2010
Scanning microscopy 2009Michael T. Postek
Scanning microscopy 2009
Michael T. Postek · 2009