booktheque

Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VI

Michael T. Postek · 1992

איפה לקנות

המחיר באמזון משתנה מדי יום, אז הכי נכון לראות אותו שם ברגע הקנייה.

לצפייה באמזון

פרטי הספר

שנה
1992
שפה
English
הוצאה
SPIE-International Society for Optical Engine
מהדורות
1
עמודים
697
ISBN
9780819408280

מקור הנתונים: Wikidata

עוד של Michael T. Postek

Critical Issues in Scanning Electron Microscope Metrology
Michael T. Postek · 1994
Integrated Circuit Metrology, Inspection, And Process Control VII
Michael T. Postek · 1993
Scanning Microscopies 2015
Michael T. Postek · 2015
Scanning Microscopies 2012
Michael T. Postek · 2012
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors V
Michael T. Postek · 2011
New research in nanotechnology
Michael T. Postek · 2011
Scanning microscopies 2011
Michael T. Postek · 2011
Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing IV
Michael T. Postek · 2010
Scanning microscopy 2010
Michael T. Postek · 2010
Scanning microscopy 2009
Michael T. Postek · 2009